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當(dāng)前位置:上海皆準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司>產(chǎn)品中心> X熒光光譜儀 PM-350 貴金屬分析儀 貴金屬分析和克拉別鑒定
PM-350
能量色散型X熒光光譜儀原理
由高能X射線激發(fā)原子電子層,使得原子核外電子發(fā)生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和數(shù)量,從而計(jì)算元素含量。
主要組成部件
高壓-光管-探測(cè)器與放-主放-DPP-控制模
塊-通信模塊-顯示系統(tǒng)等 X射線應(yīng)該分析儀結(jié)構(gòu)方框圖
對(duì)貴金屬進(jìn)行分析和克拉別鑒定
目使用XRF分析儀對(duì)貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、受歡迎,并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持,且性能可靠的方法。與火花試金法和化學(xué)試劑測(cè)試法相比,使用XRF對(duì)貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟(jì)的多元素檢測(cè)方法。
JPSPEC生產(chǎn)的PM-350 XRF分析儀為用戶提供了一種操作方便,且性價(jià)比高的檢測(cè)技術(shù):無(wú)需將檢測(cè)工具探入到被測(cè)樣件的材料中,也不會(huì)損壞被測(cè)樣件,即可獲得樣件的合金化學(xué)成份信息,判斷出樣件的克拉等。無(wú)論您是購(gòu)買黃金等貴金屬,還是出售或生產(chǎn)珠寶,或是制造金屬,抑或是回收廢舊金屬,您都需要掌握一種可以為精確地判斷克拉等以及其它貴金屬與非貴金屬含量的快速方法,在第一時(shí)間,以有效地控制產(chǎn)品質(zhì)量,制定合理的價(jià)格。
PM-350分析儀可以迅速得到各種類型樣品精確的分析結(jié)果。
PM-350分析的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)
。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面
。易于使用,一鍵操作,即可獲得克拉等及組成成份的分析結(jié)果
。有助于識(shí)別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能
。機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí),外形十分漂亮,適合放置于陳列展室
。按下按鈕的數(shù)之內(nèi),即可得到有關(guān)樣件的化學(xué)成份和克拉等的精確結(jié)果
。使用PC機(jī)和軟件,可以迅速方便地制作樣件的檢驗(yàn)結(jié)果證書(shū)
。用戶通過(guò)攝像頭及艙內(nèi)照明系統(tǒng),可看到樣件測(cè)試位置,提升了用戶對(duì)測(cè)試信心
。PM-350分析儀測(cè)試數(shù)據(jù)可以下載和上傳網(wǎng)絡(luò),檢測(cè)結(jié)果易于查看和分享
。有X射線防護(hù)鎖,只有在封閉狀態(tài)下才發(fā)射X射線,安全、可靠的保證客戶使用
硬件性能及優(yōu)勢(shì)
超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作
超快檢測(cè)速度、超人性化界面
超清攝像頭
光管電壓5KV - 50KV
高壓電源0 ~ 50KV Spellman(USA)
光管管流0μA~ 1000μA
濾光片可選擇多種定制切換
探測(cè)器Si-pin
分辦率Si-pin160土5eV
多道分析器JPSPEC-DPP
樣品腔尺寸310*280*60 ( mm)
測(cè)試時(shí)間30sec一100sec
儀器性能及配置
分析范圍1ppm to 100 %
精度RSD≤0.05% Au≥90%
測(cè)試樣品的物理狀態(tài)固體、粉末、液體
感興趣元素貴金屬Au, Ag, Pt, Pd, Ru, Rh, W, Os, Ir, etc.
基本金屬Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Cd, Sn, Pb, etc.
儀器環(huán)境要求
環(huán)境溫度15°C~30°C
相對(duì)濕度35%一70%
電源要求AC 220V土5V, 50/60HZ
分析軟件FP定性定量分析軟件
外部尺寸380*372*362 ( mm)
重量29Kg
應(yīng)用域:
珠寶制造
回收行業(yè)
典當(dāng)行/精煉行業(yè)
質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
現(xiàn)金黃金兌換
零售行業(yè)
應(yīng)用和示例
測(cè)試貴金屬Au、Pt. Ag. Pd精準(zhǔn)的分析
現(xiàn)場(chǎng)對(duì)黃金進(jìn)行克拉別鑒定: 0-24 kt
核查廢舊金屬中的金含量對(duì)雜質(zhì)材料進(jìn)行辨別
辨別未知金屬
更新時(shí)間:2024/9/12 10:07:08
標(biāo)簽:光譜儀 ROHS有害物質(zhì)分析儀 X熒光光譜儀 藝術(shù)與考古分析儀 古陶瓷無(wú)損檢測(cè)儀 便攜式合金分析儀